對(duì)于現(xiàn)在來(lái)說(shuō)，自動(dòng)化測(cè)試是比較流行的一種測(cè)試技術(shù)，因此，現(xiàn)在有很多的人都開(kāi)始想要在測(cè)試方面發(fā)展，那么，對(duì)于剛?cè)肼毜男氯藖?lái)說(shuō)，有哪些關(guān)于自動(dòng)化測(cè)試方面的知識(shí)是必須要知道的？接下來(lái)我們就先來(lái)了解一下接口自動(dòng)化測(cè)試中有哪些知識(shí)是必須知道的。

一、接口測(cè)試的必要性和意義

接口測(cè)試實(shí)施在多系統(tǒng)的平臺(tái)架構(gòu)下，有著極為高效的成本收益比（當(dāng)然，單元測(cè)試收益更高，但實(shí)施單元測(cè)試的成本投入更大，技術(shù)要求更高，所以應(yīng)該選擇更適合自身的才是最好的方案）。

接口測(cè)試天生為高復(fù)雜性的平臺(tái)帶來(lái)高效的缺陷檢測(cè)和質(zhì)量監(jiān)督能力，平臺(tái)復(fù)雜，系統(tǒng)越龐大，接口測(cè)試的效果越明顯。

總的來(lái)說(shuō)，接口測(cè)試是保證高復(fù)雜性系統(tǒng)質(zhì)量的內(nèi)在要求和低成本的經(jīng)濟(jì)利益驅(qū)動(dòng)作用下的最佳方案，主要體現(xiàn)在如下三個(gè)方面：

1、節(jié)省了測(cè)試成本

根據(jù)數(shù)據(jù)模型推算，底層的一個(gè)程序BUG可能引發(fā)上層的8個(gè)左右BUG，而且底層的BUG更容易引起全網(wǎng)的死機(jī)；接口測(cè)試能夠提供系統(tǒng)復(fù)雜度上升情況下的低成本高效率的解決方案。

2、接口測(cè)試不同于單元測(cè)試

接口測(cè)試是站在用戶的角度對(duì)系統(tǒng)接口進(jìn)行全面高效持續(xù)的檢測(cè)。

3、效益更高

將接口測(cè)試實(shí)現(xiàn)為自動(dòng)化和持續(xù)集成，當(dāng)系統(tǒng)復(fù)雜度和體積越大，接口測(cè)試的成本就越低，相對(duì)應(yīng)的，效益產(chǎn)出就越高。

二、接口自動(dòng)化測(cè)試實(shí)施作用

1、當(dāng)服務(wù)端改動(dòng)功能或者添加新功能時(shí)，新發(fā)布程序后，避免新開(kāi)發(fā)功能導(dǎo)致其他關(guān)聯(lián)功能存在問(wèn)題，通過(guò)持續(xù)集成，服務(wù)端發(fā)布觸發(fā)接口測(cè)試代碼運(yùn)行，盡早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題；

2、抽取部分接口測(cè)試用例，定時(shí)運(yùn)行程序，對(duì)線上常用的業(yè)務(wù)操作進(jìn)行監(jiān)控，及時(shí)發(fā)現(xiàn)修復(fù)。

在最后，小編給大家推薦一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試框架吧，ATF自動(dòng)化測(cè)試框架軟件（簡(jiǎn)稱:ATF）是B/S架構(gòu)框架，可實(shí)現(xiàn)Selenium等多種自動(dòng)化測(cè)試全流程，通過(guò)集成自動(dòng)化測(cè)試工具可實(shí)現(xiàn)PC端界面自動(dòng)化、接口自動(dòng)化、APP功能自動(dòng)化測(cè)試和深度兼容性測(cè)試，測(cè)試完成后系統(tǒng)自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告。

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